SediGraph Ⅲ 5120全自动X光沉降粒度分析仪使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径且无需建模。该仪器提供卓越的准确性和重复性，同一个样品的测试结果可以再全世界任何其他SediGraphIII上得到。该产品的技术已经成为全球造纸、陶瓷、磨料等数个行业标准。

技术参数

• 粒度范围：0.1微米至300微米

• 测试方法：X-射线沉降法

• 典型分散液体：水、矿物油、SediSperse、醇类

• 电源：85~264 VAC