TriStar II 3020是完全自动化并 且含三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪.仪器性价比高，能够提高常规质量控制分析的速度和效率，同时拥音高精度、高分辨率和数据还原能力，以满足大多数研究需求. TriStar II 3020也同时提供氪气和微孔选件，可以进行低比表面和微孔测量.该仪器配有同时可处理6个样品的样品处理器，用户可根据需要选择流动法或者真空法。

主要技术参数

• 比表面积： 0.001m²/g至无上限。                                    

• 孔径分析范围：3.5 埃 to 5000 埃。

• 吸附气体：包括N2、Ar、CO2、CO、H2、Kr、O2、CH4等一切非腐蚀性气体。

• 结果报告：吸附、脱附等温线、BET、总孔体积、平均孔径、Langmuir、 t-plot、BJH、DH、H-K、MP、DFT、NLDFT、Dubinin 等。

功能特点

• 同时进行三个样品的中孔和微孔分析。

• 多达1000个等温吸脱附数据点，可提供高分辨率观察并揭示精细孔隙结构细节。

• 每个分析站和饱和蒸汽压测量管都配备各自独立的高精度压力传感器。

• 样品前处理单元及样品分析单元的站口与内部管路连接处有滤片，可以避免快速抽粉末样品引起的系统内部污染。

• 专利等温夹式冷浴液面恒定系统，适用于任何冷浴。

• 仪器配备专业的样品真空转移阀。用于对空气敏感样品脱气后真空转移到分析站，防止二次污染，提高结果的精确性。

• 六个真空或者流动脱气站，温度室温至400℃内可调。